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碳化硅赋能浪潮教程:利用 SiC CJFET替代超结 MOSFET

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本文将介绍利用 SiC CJFET替代超结 MOSFET以及开关电源应用。

碳化硅(SiC)凭借其优异的材料特性,在服务器、工业电源等关键领域掀起技术变革浪潮。本教程聚焦 SiC 尤其是 SiC JFET 系列器件,从碳化硅如何重构电源设计逻辑出发,剖析其在工业与服务器电源场景的应用价值。


本文将介绍利用 SiC CJFET替代超结 MOSFET以及开关电源应用。





 

 
1  

利用 SiC CJFET替代超结 MOSFET



安森美与竞品对比  


本表对比了安森美(onsemi) EliteSiC CJFET 器件 UJ4C075033K3S 与某竞品厂商的Si超结(SJ) MOSFET 的关键特性。其中,UJ4C075033K3S 在25°C 下的额定值为 750 V,33 mΩ; 而竞品Si SJ MOSFET 在25°C 下的额定值为 650 V,29 mΩ。在此对比中,该 CJFET 的反向恢复电荷 QRR 降低至 1/60,栅极电荷 QG 降低至 1/6,反向传输电容 COSS(tr) 降低至 1/10。


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最大限度降低反向传输电容  


SiC CJFET 与 Si SJ MOSFET 之间最显著的差异在于电容特性与裸片尺寸。在安森美 UJ4C075044B7S CJFET 与某竞品 Si SJ MOSFET 的对比中,尽管 CJFET 的阻断电压 VBRDSS 高出 100V,且两者的导通电阻 RDS(on) 额定值相近,但 SJ MOSFET 的反向传输电容 COSS(tr) 却高出 13倍 以上。这一差异源于 SJ MOSFET在低压范围内表现出的非线性特性,如下图所示。CJFET 的电压转换时间远短于SJ MOSFET 。在采用半桥整流拓扑(而非全桥)的电源系统中,CJFET 能始终实现显著更快的开关速度。


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降低导通损耗,缩短死区时间  


在用 SiC CJFET替代 Si SJ MOSFET 时,安森美建议通过调整死区时间(dead time)或在 CJFET 上增加缓冲电容,以有效管理因死区引起的导通损耗。尤其在较高开关频率下,死区时间带来的影响会变得更加显著。


对于CJFET而言,从检测到电流反向到JFET沟道完全导通通常存在延迟。举例来说:若死区时间为 100 ns,而开关频率为 100 kHz,则开关周期为 10 µs,此时死区仅占周期的 1%,该延迟影响相对较小。然而,若开关频率提升至 1 MHz,开关周期将缩短至 1 µs,死区时间便占整个周期的 10%,其影响不可忽视。


在相同死区时间下,相较于 Si SJ MOSFET,SiC CJFET 的漏源电压 VDS 放电速度更快,导致其体二极管在剩余死区时间内持续导通。假设 CJFET 剩余死区时间 TDT(CJFET) 为 0.2 µs,体二极管正向压降 VFD 为 1.2 V,开关频率 FSW 为 100 kHz,开关电流 IC 为 10 A,则全桥拓扑中由剩余死区引起的功率损耗 PDT 可通过以下公式计算:

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在此案例中,计算得出的损耗为0.96W。然而,通过对栅极应用Adaptive Gate Control, 在死区时间内提前提升 VG2,让 VDS(CJFET) 降至 0V 的瞬间开通。即可使该部分损耗趋近于零。这一效果可通过观测 VDS 与 VGS 的输出波形加以验证。


死区时间越长,体二极管导通损耗的持续时间也越长。通过缩短 CJFET 的死区时间,或为其增加缓冲电容以匹配 Si SJ MOSFET 的 COSS ,可有效改善此问题。


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消除反向恢复失效风险  


在对比 SiC CJFET与Si SJ MOSFET时,当两者具有相同的电流变化率( Δi/Δt )并在相同的结温( T= 25°C )下工作,安森美UJ4C075033K3S CJFET 的反向恢复电荷( QRR )最多可比后者低 60 倍 。更小的反向恢复电荷意味着更高效率、更低噪声与更优的电磁兼容性。此外,CJFET在反向恢复过程中没有导致器件失效的风险,可显著提升系统整体稳健性。


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2


开关电源应用


适用于任何电压等级的高能效表现  


为展示CJFET在电源快速开关需求下的性能,我们测试了四款不同的安森美 CJFET 器件在3.6 kW图腾柱功率因数校正 (TPPFC) 硬开关拓扑中的效率。所有被测CJFET在半负载条件下均实现了超过99% 的峰值效率。


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同步整流 (SR) 技术  


同步整流的实现,首先在于用可控的场效应晶体管(FET)替代谐振型电源转换器中通常在初级侧(有时也在次级侧)使用的二极管。由于这些 FET 的开关时序可以更直接地控制,转换器输出的直流波形能够更准确地匹配负载所需的电压和频率。


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全桥移相有源桥零电压转换拓扑

以这种在 AC-DC 应用中日益普及的电路拓扑为例:所有通常使用二极管的开关位置均被场效应晶体管替代。“ZVT”代表零电压转换,该技术巧妙利用了主变压器的漏电感与开关的输出电容——这些通常被视为寄生元件的特性——并将其转化为优势。


例如,在标准全桥拓扑中置于初级侧外部的漏电感,现在可集成至内部。它在实现相同功能的同时,大幅缩减了占用空间。


通过有源桥移相控制,脉宽调制(PWM)可转换为固定开关频率的工作模式,这使控制实现更为简便,同时降低了开关对击穿电压的耐压要求。电磁干扰频谱也更为集中,使系统在整个宽输出电压范围内均能实现稳定且高效率的运行。


零电压开关(ZVS)  


从电气工程师的角度来看,全桥功率转换过程的一大优势在于它能够实现软开关。严格来说,ZVS 并非一种刻意设计的技术手段,而更像是一种可被巧妙利用的物理现象。它通过功率转换器的谐振网络(或称“谐振腔”)得以实现。


典型的零电压开关会利用电容和电感构成一个谐振电路(即“谐振腔”)。而在实际应用中,常以变压器固有的励磁电流作为便捷的替代。可以把这个励磁电流看作一种振荡信号,它能够在PFC电路中 MOSFET(或 CJFET)两端电压为零(或极低)时,将器件导通。


波形整形的核心思想是:在输入电压处于波峰或波谷时导通或关断输出开关,而谐振所产生的自然振荡,恰好为这种基于电感特性的开关动作提供了理想时序。


该电流被有意设置为相位滞后于谐振网络的电压,正是这种滞后引发了谐振,从而触发场效应晶体管导通(并促使其他开关按序关断)。在此过程中,开关损耗得以有效避免,EMI 噪声也显著降低。

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高频电源的五个转换级  


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这是前文介绍的图腾柱PFC完整电路图。这种全"无桥式"拓扑结构包含五个功率转换级。最左侧为硬开关,其余四个均采用软开关技术。从左至右,每个同步整流转换级的电路结构逐级简化。


对于“快速桥臂”(即硬开关),图腾柱PFC需搭配RC缓冲器使用CJFET。若PCB布局空间受限无法容纳此元件,则 SiC MOSFET 可能成为唯一选择。否则,若考虑 CJFET 配合 RC 缓冲电路所能实现的性能特性,CJFET 将是更优方案。


对于"慢速桥臂"(即同步整流器件),其核心要求是具备低导通电阻RDS(on) ,因此CJFET是最佳选择。


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对于位于中间的初级 LLC 转换级(因其紧邻两个电感L和一个电容C而得名),导通损耗是主要损耗因素。在高开关频率下,关断开关损耗是另一个关键参数,因为 LLC 作为一种零电压开关(ZVS)拓扑,不存在导通损耗。CJFET 在配置缓冲器后已展现出极低的关断能量损耗Eoff ,因此是初级 LLC 转换级的最佳选择。


随后的次级 LLC 转换级以及最右侧的 O-Ring 级可用于 400 V 输出电压的设计中。对于此类高压应用,低导通电阻 RDS(on) 和低输出电容 COSS 至关重要,这使得 CJFET 在整个次级侧相比 SiC MOSFET 或 Si SJ MOSFET 更具优势。


未完待续,我们将介绍CJFET通常需要配置缓冲电路的原因等。




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