YAGEO | 隆重推出 HRA 系列 Z 级:突破传统军用规格限制,拓展高可靠性 MLCC 能力
随着国防、航空航天及航天应用的不断发展,系统设计人员正面临日益严峻的挑战:需要更高的电容量、更小的封装尺寸,以及符合现有 MIL‑SPEC 电容器要求的明确可靠性控制。

2023 年,YAGEO 集团通过推出 High Reliability Alternative(HRA)X‑Level 系列来满足这一需求,为有限任务应用提供了更高的可靠性和更高的 CV 值。在此基础上,KEMET 进一步扩展产品组合,推出 HRA Z‑Level,通过扩展筛选、测试和工艺控制,使其更接近 MIL‑PRF‑32535 T‑Level 的要求,同时仍提供超出传统 MIL‑SPEC 限制的电容量。 HRA 系列的核心是 YAGEO 集团专利的基底金属电极(BME)技术,可在标准 EIA 封装尺寸内实现显著更高的电容量。该技术支持持续的小型化和电路板空间缩减,这对现代国防和航天电子设备至关重要。
HRA 电容器采用比汽车级或 COTS MLCC 更加坚固的设计,并在制造过程中应用优化的工艺控制,配合明确的筛选和验收标准。 • X Level(2023 年推出) o 符合 MIL‑PRF‑32535 M‑Level 的过程检验与测试要求 • Z Level(全新推出) o 符合 MIL‑PRF‑32535 T‑Level 的过程检验与测试要求 两个等级均包含 100% 电气测试、完整的批次可追溯性,以及可选的单一批次日期代码(SLDC)。
除标准端接方式外,HRA 系列还提供柔性端接技术,采用导电银环氧层,有助于吸收电路板应力并降低弯曲开裂风险。
快速概览
电容量范围:39 pF 至 22 μF
结构:标准型和柔性型
端接
筛选:
按照 MIL‑PRF‑32535 进行电压调理
产品特性
专利 BME 技术
工作温度范围 −55 °C 至 +125 °C
直流额定电压范围 6.3 V 至 100 V
EIA 0402 – 2220 封装尺寸
X 和 Z 等级
提供 100% Sn、SnPb 和 Au 镀层选项
客户价值
相比 MIL 产品具有更高的 CV 值
保守型设计
电压调理
批次可追溯性
批次放行测试
目标应用场景
去耦
旁路
滤波
瞬态电压抑制
市场优势
是否需要比传统 MIL‑PRF‑
32535 器件所能提供的更高电容量?
采用 KEMET 专利的基底金属电极(BME)技术,可提供高达同类 MIL‑PRF‑32535 认证器件 5 倍的电容量。
经过设计、测试和筛选,满足对可靠性要求极高且电容量需求超出 MIL‑SPEC 限制的应用。
按照 MIL‑PRF‑32535(5% PDA)进行电压调理及后续电气测试。
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